CMI900 X射線熒光測厚儀
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000 更多詳細CMI830電解測厚儀,庫倫測厚儀,電鍍層測厚儀,牛津測厚儀
CMI830電解測厚儀主要用于電鍍層厚度及多鎳鍍層,電位差測量。 應用領域:汽車摩托車、自行車、航天航海、電子電器、線路板、五金鎖具、潔具衛浴、塑膠電鍍、標準件、釹-鐵-硼、技術監督部門及科研機構。 更多詳細牛津臺式X射線熒光分析儀( 可無損測量鍍層厚度和進行材料分析)
Lab-X3500 利用X射線熒光分析可提高您的生產率,既節省時間又降低成本 更多詳細牛津多樣品分析的臺式X射線熒光光譜儀
X-Supreme8000 是一款設計緊湊靈活、功能強大的能量色散型 X 射線熒光(EDXRF)光譜儀,滿足各個行業中對質量保證和過程控制的要求。 更多詳細